影响涂层测厚仪测量结果的因素有哪些？

涂层测厚仪可以用来无损地测量材料及物体表面的涂层厚度，但是在检测过程中可能会受到材料性质、磁场等各种因素的影响，导致检测结果出现偏差？那么，影响因素有哪些呢？本文进行了简单总结。

1. 基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

2. 基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。

3. 边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

4. 曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

5. 读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。

6. 表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

7. 磁场

周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。

8. 测头取向

测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。